HCJDCS-B型 高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
HCJDCS-B介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC 60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的提供依據(jù);該儀器廣泛應(yīng)用于大專院校、科研院所對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料的應(yīng)用研究。儀器遵從標(biāo)準(zhǔn):GB/T5594.4-1985。
產(chǎn)品特點(diǎn)
它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測(cè)試。
介電常數(shù)又稱電容率或相對(duì)電容率,是表征電介質(zhì)或絕緣材料電的一個(gè)重要數(shù)據(jù),常用ε表示。介質(zhì)在外加電場(chǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場(chǎng),原外加電場(chǎng)(真空中)與終介質(zhì)中電場(chǎng)比值即為介電常數(shù)。其表示電介質(zhì)在電場(chǎng)中貯存靜電能的相對(duì)能力,例如一個(gè)電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場(chǎng)中,場(chǎng)的強(qiáng)度會(huì)在電介質(zhì)內(nèi)有可觀的下降。介電常數(shù)還用來(lái)表示介質(zhì)的極化程度,宏觀的介電常數(shù)的大小,反應(yīng)了微觀的極化現(xiàn)象的強(qiáng)弱。氣體電介質(zhì)的極化現(xiàn)象比較弱,各種氣體的相對(duì)介電常數(shù)都接近1,液體、固體的介電常數(shù)則各不相同,而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關(guān)。
物質(zhì)介電常數(shù)具有復(fù)數(shù)形式,其實(shí)部即為介電常數(shù),虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。
通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切,其可表示材料與微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料與微波的耦合能力就越強(qiáng)。例如當(dāng)電磁波穿過(guò)電解質(zhì)時(shí),波的速度被減小,波長(zhǎng)也變短了。
適用范圍
該儀器用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料的應(yīng)用研究。
參數(shù)規(guī)格
1 Q值測(cè)量范圍:5~999
Q值量程分檔:30、100、300、999、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換擋
誤差:25kHz~10MHz ≤5%±滿度值的2%
10MHz~50MHz ≤7%±滿度值的2%
2 電感測(cè)量范圍:0.1μH~1H 分七個(gè)量程
3 電容測(cè)量范圍:1PF~460PF
主電容調(diào)節(jié)范圍:40PF~500 PF
準(zhǔn)確度:150PF以下±1.5PF
150PF以上±1%
微調(diào)電容調(diào)節(jié)范圍:-3PF~0PF~+3PF
準(zhǔn)確度:±0.2PF
4 頻率覆蓋范圍:25 kHz~50MHz 分七段
指示誤差:2×10-4±2個(gè)字
5 電源:220V±22V 50Hz±2.5Hz 25W
6 環(huán)境溫度:(0~+40)℃
7 相對(duì)濕度:RH<80%
8 外形尺寸:380mm×132mm×280mm
9 重量:約7kg
10.電感9只;
11.夾具一套
1.本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電,使用前要檢查市電電壓是否合適,采用穩(wěn)壓電源,以保證測(cè)試條件的穩(wěn)定。
2.開(kāi)機(jī)預(yù)熱15分鐘,使儀器恢復(fù)正常狀態(tài)后才能開(kāi)始測(cè)試。
3.按部件標(biāo)準(zhǔn)制備好的陶瓷試樣,兩面用燒滲法被上銀層,并分別焊上一根Φ0.8mm,30~40mm長(zhǎng)的金屬引線。引線材料為銅,表面鍍銀并浸錫。
4.選擇適當(dāng)?shù)妮o助線圈插入電感接線柱。根據(jù)需要選擇振蕩器頻率,調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振。假定諧振時(shí)電容為C1,因素為Q1。
5.“△Q零點(diǎn)調(diào)節(jié)”旋鈕使Q表指向表頭中間零點(diǎn)。
6.“Q量程”開(kāi)關(guān)扳回500檔。
7.將被測(cè)樣品接在“CX”接線柱上。
8.再調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振,這時(shí)電容為C2,“Q量程”扳向△Q位置,可以直接讀出△Q,并且Q2= Q1-△Q,將Q表量程扳回500檔。
9.用游標(biāo)卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d(分別在不同位置測(cè)得兩個(gè)數(shù)據(jù),再取其平均值)。
四、實(shí)驗(yàn)結(jié)果
1.tanδ和ε測(cè)定記錄
實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)按表1要求填寫。
表1 tanδ和ε測(cè)定記錄表
試樣名稱 |
| 測(cè)定人 |
| 測(cè)定時(shí)間 |
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試樣處理 |
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編號(hào) | C1 | C2 | C | d | ψ | δ | Q1 | △Q | Q2 | tanδ | QX |
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2.計(jì)算
Cd Φ2 |
1)介電常數(shù)ε
ε=
式中:C---試樣的電容量(PF), C= C1-C2;
d---試樣厚度(cm);
Φ—試樣直徑(cm)。
C1 △Q C1 Q1-Q2 C1-C2 Q1* Q2 C1-C2 Q1* Q2 |
2)介質(zhì)損耗角正切tanδ
tanδ= * = *
1 Q1Q2 C1-C2 tanδ Q1-Q2 C1 |
3) Q值
Q = = *
1.圓片形試樣的尺寸(Φ=38mm+1mm,d=2mm+0.5mm)要符合公差要求,兩面燒滲銀層、浸錫及焊接引出線要符合技術(shù)條件。
2.電壓或頻率的劇烈波動(dòng)常使電橋不能達(dá)到良好的平衡,所以測(cè)定時(shí),電壓和頻率要求穩(wěn)定,電壓變動(dòng)不得大于1%,頻率變動(dòng)不得大于0.5%。
3.電極與試樣的接觸情況,對(duì)tanδ的測(cè)試結(jié)果有很大影響,因此燒滲銀層電極要求接觸良好、均勻,而厚度合適。
4.試樣吸濕后,測(cè)得的tanδ值增大,影響測(cè)量精度,應(yīng)嚴(yán)格避免試樣吸潮。
5.在測(cè)量過(guò)程中,注意隨時(shí)檢查電橋本體屏蔽的情況,當(dāng)電橋真正達(dá)到平衡,“本體-屏蔽”開(kāi)關(guān)置于任何一邊時(shí),檢查計(jì)光帶均應(yīng)小,而無(wú)大變化。
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