一、工作原理：

可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置 新能源試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓，其波動(dòng)為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。

二、可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀有阻尼裝置 新能源儀器參數(shù)：

三、儀器結(jié)構(gòu)：

五、功能特點(diǎn)：

1本產(chǎn)品采用智能控制技術(shù)，通過選擇程序（IEC或ASTM）可自動(dòng)進(jìn)行試驗(yàn)，并在工業(yè)觸摸屏顯示試驗(yàn)過程和結(jié)果。  

2控制系統(tǒng)采用的PLC和觸摸屏通信進(jìn)行控制。  

3an全良好，抗擾能力強(qiáng)，測試精度高。  

4自動(dòng)化程度高，按照設(shè)定的試驗(yàn)要求，自動(dòng)升壓到設(shè)定的電壓后，自動(dòng)完成試驗(yàn)并自動(dòng)歸零。  

5電弱點(diǎn)測試儀電壓和電流具有自動(dòng)校驗(yàn)功能，方便計(jì)量和。

六、華測常用可測薄膜電弱點(diǎn)絕緣材料測試儀設(shè)備優(yōu)勢：

1、TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù):

電弱點(diǎn)測試儀大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗擾處理，對(duì)于擊穿放電過程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。

2、方便的試驗(yàn)方式:

本試驗(yàn)儀器輸入交流電壓與直流電壓，試驗(yàn)過程通過設(shè)備自帶的工控機(jī)進(jìn)行控制。實(shí)時(shí)觀測電弱點(diǎn)數(shù)量，試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)速與長度、試驗(yàn)電壓與試驗(yàn)電流等參數(shù)。

3、伺服電機(jī)配合編碼器同步運(yùn)行保證精準(zhǔn)速度控制:

本試驗(yàn)儀器采用伺服電機(jī)控制收卷速度。伺服電機(jī)程序上采用閉環(huán)控制，同時(shí)配合數(shù)字編碼器相互驗(yàn)證，精確速度控制。

4、雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù):

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電弱點(diǎn)測試儀器，華測生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測試儀器不僅具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng)，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。

5、SPM電子升壓技術(shù)：

設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù)這-技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn)，精度高。

6、氣脹軸安裝整圈周膜：

采用氣脹軸安裝整圈膜安裝方便，優(yōu)勢是可實(shí)現(xiàn)放圈與收圈過程中不產(chǎn)生偏向等。

7、阻尼裝置：

華測自主開發(fā)的尼阻技術(shù)可防止運(yùn)動(dòng)慣量所產(chǎn)生的膜移動(dòng)過程中的松馳現(xiàn)象。